SN74BCT8374ADWRE4 - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Hersteller Teilenummer

SN74BCT8374ADWRE4

Interne Teilenummer

ABC-SN74BCT8374ADWRE4

Hersteller

T-I

Kurze Beschreibung

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

RoHS-Status

Bleifrei / RoHS-konform

Lieferzeit

1-2 Tage

verfügbare Anzahl

58545 Pieces

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Technische Daten für SN74BCT8374ADWRE4

Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie

Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt

Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Artikelnummer : SN74BCT8374ADWRE4

Hersteller : T-I

Beschreibung : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Serie : 74BCT

Teilestatus : Obsolete

Logiktyp : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

Versorgungsspannung : 4.5V ~ 5.5V

Anzahl der Bits : 8

Betriebstemperatur : 0°C ~ 70°C

Befestigungsart : Surface Mount

Paket / fall : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

Supplier Device Package : 24-SOIC

Gewicht : -

Bedingung : Neu und originell

ähnliche Links : SN74B , SN74BCT8

Dokumente für SN74BCT8374ADWRE4

Datenblätter : SN74BCT8374ADWRE4.pdf

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