SN74LVTH18646APM - IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Hersteller Teilenummer

SN74LVTH18646APM

Interne Teilenummer

ABC-SN74LVTH18646APM

Hersteller

T-I

Kurze Beschreibung

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

RoHS-Status

Bleifrei / RoHS-konform

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1-2 Tage

verfügbare Anzahl

75790 Pieces

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Technische Daten für SN74LVTH18646APM

Qualitätsgarantie : 365 Tage Garantie

Lagerressource : Franchise-Händler / Hersteller direkt

Herkunftsland : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI

Artikelnummer : SN74LVTH18646APM

Hersteller : T-I

Beschreibung : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

Serie : 74LVTH

Teilestatus : Active

Logiktyp : ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers

Versorgungsspannung : 2.7V ~ 3.6V

Anzahl der Bits : 18

Betriebstemperatur : -40°C ~ 85°C

Befestigungsart : Surface Mount

Paket / fall : 64-LQFP

Supplier Device Package : 64-LQFP (10x10)

Gewicht : -

Bedingung : Neu und originell

ähnliche Links : SN74L , SN74LVTH

Dokumente für SN74LVTH18646APM

Datenblätter : SN74LVTH18646APM.pdf

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